|
БАЗА НОРМАТИВНОЙ |
ГОСТ 8.593-2009 |
|
|
|
 0  413 Документ ГОСТ 8.593-2009 "Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки" введен в действие c 01.01.2011 . Если хотите скачать его, то нажмите на ссылку сверху. |
|
|
Скачать бесплатно нормативные документы |
|
Данный документ ГОСТ 8.593-2009 "Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки" устанавливает требования и методику поверки сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов, используемых для измерения различных параметров материалов на микро- и наноуровне.
Ключевые моменты документа:
- Описание основных метрологических характеристик, подлежащих определению при поверке сканирующих зондовых атомно-силовых микроскопов.
- Методика проведения поверки, включая подготовку микроскопа, выбор эталонных объектов, проведение измерений и обработку результатов.
- Требования к условиям проведения поверки, квалификации персонала и оформлению результатов.
Данный ГОСТ предназначен для применения организациями, эксплуатирующими сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, а также метрологическими службами, осуществляющими их поверку и калибровку. Документ позволяет обеспечить единство и достоверность измерений при работе с этими высокоточными приборами в различных областях науки и промышленности.
